[发明专利]一种LED寿命的检测方法及系统无效
| 申请号： | 200910188780.6 | 申请日： | 2009-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN102096034A | 公开（公告）日： | 2011-06-15 |
| 发明（设计）人： | 宋义;苏遵惠;李英翠;张俊锋 | 申请（专利权）人： | 深圳帝光电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 518026 广东省深圳市福*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于测试技术领域，提供了一种LED寿命检测方法及系统，所述方法包括下述步骤：获取影响LED寿命的加速因素，依据影响LED寿命的各个加速因素，分别进行LED寿命测试，获取得到与LED寿命相关联的加速因子；根据各个加速因素以及加速因子，分别控制进行标准条件下和综合加速因素下的LED寿命测试，获取得到LED的测试寿命。在本发明实施例中，获取影响LED寿命的加速因素，依据各个加速因素，分别进行LED寿命测试，获取得到加速因子；根据各个加速条件以及加速因子，分别控制进行标准条件下和综合加速因素下的LED寿命测试，获取得到LED的测试寿命，解决LED寿命测试时间比较长的问题，实现快速测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 led 寿命 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种LED寿命的检测方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：获取影响LED寿命的加速因素，依据影响LED寿命的各个加速因素，分别进行LED寿命测试，获取得到与LED寿命相关联的加速因子；根据所述各个加速因素以及加速因子，分别控制进行标准条件下和综合加速因素下的LED寿命测试，获取得到LED的测试寿命。
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