[发明专利]利用受控剪切区域的膜的层转移有效
申请号: | 200910138229.0 | 申请日: | 2009-05-07 |
公开(公告)号: | CN101577296A | 公开(公告)日: | 2009-11-11 |
发明(设计)人: | 弗兰乔斯·J·亨利 | 申请(专利权)人: | 硅源公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/78 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 李丙林;张 英 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 通过提供半导体衬底可形成材料膜,该半导体衬底具有表面区域以及位于表面区域下方预定深度处的裂开区域。在将膜从衬底裂开的过程中,小心地控制裂开区域中的剪切。根据特定实施方式,面内剪切分量(KII)被保持接近零,并夹在拉伸区域与压缩区域之间。在一个实施方式中,利用定位在衬底表面上方的板可以完成裂开。该板用来在裂开期间限制膜的移动,并且与局部热处理一起来降低在裂开工艺过程中产生出的剪切。根据另一实施方式,KII分量有目的地保持在高水平上并用来通过裂开序列来引导和驱动断裂扩展。在一个实施方式中,通过利用暴露于E束辐射的硅绝热加热来实现高的KII分量,这在硅中的精确限定的深度处赋予了非常陡峭的热梯度以及所得的应力。 | ||
搜索关键词: | 利用 受控 剪切 区域 转移 | ||
【主权项】:
1.一种用于裂开材料膜的方法,所述方法包括:提供衬底,所述衬底具有表面和下面的裂开区域;沿垂直于所述表面的方向施加具有预定能量的热源,以在所述裂开区域与所述表面之间形成加热材料体积,所述加热体积呈现出基本均匀的温度分布,接着在所述裂开区域处温度急剧下降;以及在所述裂开区域处使所述膜从所述衬底裂开。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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