[发明专利]钚部件属性测量方法及装置无效
| 申请号： | 200910059830.0 | 申请日： | 2009-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN101936922A | 公开（公告）日： | 2011-01-05 |
| 发明（设计）人： | 吴斌;聂诗良;李磊民;韩宾;张海涛;刘素萍;郝樊华;刘泾 | 申请（专利权）人： | 西南科技大学 |
| 主分类号： | G01N23/00 | 分类号： | G01N23/00;G01T1/00 |
| 代理公司： | 成都蓉信三星专利事务所 51106 | 代理人： | 刘克勤;贺元 |
| 地址： | 621010 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开一种钚部件属性测量方法及装置，装置包括钨光圈及其开度调节机构，用做钚部件Gamma射线采样通道；Gamma射线探测器，对应Gamma射线采样通道，用于探测Gamma射线，将其转换成电脉冲信号；多道分析仪，用于分析来自射线探测器的电脉冲信号，得到有关该Gamma射线源的谱数据；解谱器，用于分析计算谱数据，得到钚部件属性特征参数值；主控制器，用于控制上述各部件的工作过程。测量方法包括步骤：A.用探测器探测钚部件辐射出的Gamma射线，通过调整探测器光圈开度，获得某一确定光通量的Gamma射线，将其装换成相应的电脉冲信号数据；B.用多道分析仪分析该电脉冲信号数据，得到有关该光通量Gamma射线源的谱数据；C.用解谱器分析计算该谱数据，得到钚部件属性的特征参数值，判断、计算其属性值；D.判断结束后，自动清除测量装置中的所有原始测量数据。 | ||
| 搜索关键词： | 部件 属性 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
一种钚部件属性测量装置，包括：钨光圈及其开度调节机构，用做钚部件Gamma射线采样通道；Gamma射线探测器，对应Gamma射线采样通道，用于探测Gamma射线，将其转换成电脉冲信号；多道分析仪，用于分析来自射线探测器的电脉冲信号，得到有关该Gamma射线源的谱数据；解谱器，用于分析计算谱数据，得到钚部件属性特征参数值；主控制器，用于控制上述各部件的工作过程。
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