[发明专利]一种直角反射棱镜法平面铅垂度检测方法及其装置有效
申请号: | 200910020843.7 | 申请日: | 2009-01-08 |
公开(公告)号: | CN101776454A | 公开(公告)日: | 2010-07-14 |
发明(设计)人: | 吴易明;高立民;胡晓东;赵军丽 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01C15/10 | 分类号: | G01C15/10 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 康凯 |
地址: | 710119陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 一种直角反射棱镜法平面铅垂度检测方法及其装置,该方法包括建立坐标系OXYZ、自准直仪对直角反射棱镜进行瞄准,记录瞄准示值β1;位于第二状态时,自准直仪对直角反射棱镜进行瞄准,并记录瞄准示值β2、由第二状态至第三状态时,自准直仪再对直角反射棱镜进行瞄准,并记录瞄准示值β3以及对3次测量的β1、β2以及β3按照其矢量关系进行处理的步骤。本发明测量精度可以控制在8″以内,同时具有测量原理简单,操作容易等优点。本发明可用于直角反射棱镜装调过程中法平面铅垂度的检测。 | ||
搜索关键词: | 一种 直角 反射 棱镜 平面 铅垂度 检测 方法 及其 装置 | ||
【主权项】:
一种直角反射棱镜法平面铅垂度检测方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:1)以斜方棱镜(2)的中心为坐标原点,建立坐标系OXYZ;2)斜方棱镜(2)位于铅垂状态时,首先自准直仪(1)对直角反射棱镜(3)进行瞄准,记录瞄准示值β1;3)横轴(8)与斜方棱镜(2)的Z轴同轴心,斜方棱镜(2)的下表面(7)镀有增透膜,在横轴(8)带动下斜方棱镜(2)绕Z轴单方向旋转22.5°,位于第二状态(4)时,其前表面部分(6)与下表面部分(7)构成了楔形镜,光线经折射至直角反射棱镜(3),自准直仪(1)对直角反射棱镜(3)进行瞄准,并记录瞄准示值β2;4)斜方棱镜(2)绕竖轴及码盘(10)在水平面内旋转180°,由第二状态(4)至第三状态(5)时,自准直仪(1)再对直角反射棱镜(3)进行瞄准,并记录瞄准示值β3;5)对3次测量的β1、β2以及β3按公式(vi),即得到直角反射棱镜(3)的法平面铅垂度。
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