[发明专利]下推式地基路基沉降联合测试方法及测试装置无效
申请号: | 200910017309.0 | 申请日: | 2009-07-20 |
公开(公告)号: | CN101614535A | 公开(公告)日: | 2009-12-30 |
发明(设计)人: | 崔新壮;金青;车华桥;高发亮 | 申请(专利权)人: | 山东大学 |
主分类号: | G01B21/02 | 分类号: | G01B21/02;E01C3/00 |
代理公司: | 济南圣达专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 王吉勇 |
地址: | 250061山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明涉及一种下推式地基路基沉降联合观测方法,包括以下步骤:a.在地基上打测试孔,测试孔的深度为地基沉降测试范围;b.在测试孔内布设传统的分层沉降计,埋设完毕后,整平地基表面;然后安放隐式沉降测试装置;随着填筑高度的增加,每隔1~2m埋设一个隐式沉降测试装置;c.当路基开始填筑时,开始测试路基和地基的沉降,由隐式沉降测试装置可测得路基和地基表面的绝对沉降,而分层沉降计测得的是孔底和地面的相对沉降;设孔底和地面的相对沉降为Δs,地面的绝对沉降为s0,则孔底的绝对沉降s为:s=s0-Δs。本发明同时还公开了隐式沉降测试装置。本发明在路基沉降测试不影响路基施工,地基内任意点的绝对沉降测试只需在测试范围内打孔。 | ||
搜索关键词: | 下推 地基 路基 沉降 联合 测试 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种下推式地基路基沉降联合观测方法,其特征在于:包括以下步骤:a.在地基上打测试孔,测试孔的深度为地基沉降测试范围;b.在测试孔内布设传统的分层沉降计,埋设完毕后,整平地基表面;然后安放隐式沉降测试装置;随着填筑高度的增加,每隔1~2m埋设一个隐式沉降测试装置;c.当路基开始填筑时,开始测试路基和地基的沉降,由隐式沉降测试装置可测得路基和地基表面的绝对沉降,而分层沉降计测得的是孔底和地面的相对沉降;设孔底和地面的相对沉降为Δs,地面的绝对沉降为s0,则孔底的绝对沉降s为:s=s0-Δs。
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