[实用新型]极紫外波段发射效率测量装置无效

专利信息
申请号: 200820150877.9 申请日: 2008-07-16
公开(公告)号: CN201251487Y 公开(公告)日: 2009-06-03
发明(设计)人: 蔡懿;王文涛;夏长权;刘丽;邹璞;刘建胜;李儒新 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00;G01J3/28
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 张泽纯
地址: 201800上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种极紫外波段发射效率测量装置,该装置的结构包括:沿极紫外光前进方向依次是铝膜、水平狭缝、第一柱面金镜、第二柱面金镜、平面金镜、竖直狭缝、平场光栅、X射线CCD和计算机,该装置的优点是:采用计算机采集和处理数据,迅速准确;灵敏度高可实现单次测量;成像系统和光栅可有效滤除杂散光,结果精确度高;可单独对5-40纳米波长范围内任意波段的效率进行测量。
搜索关键词: 紫外 波段 发射 效率 测量 装置
【主权项】:
1、一种极紫外波段发射效率测量装置,其特征在于该装置的结构包括:沿极紫外光前进方向依次是铝膜(1)、水平狭缝(2)、第一柱面金镜(3)、第二柱面金镜(4)、平面金镜(5)、竖直狭缝(6)、平场光栅(7)、X射线CCD(8)和计算机(9),其位置关系如下:由S点发射的极紫外光,经由所述的铝膜(1)、水平狭缝(2)掠入射在第一柱面金镜(3)上,该第一柱面金镜(3)的柱面轴线平行于光学平台,并被反射到第二柱面金镜(4)上,该第二柱面金镜(4)的柱面轴线垂直于所述的光学平台,再由所述的平面金镜(5)反射,经过所述的平场光栅(7)色散后并将一级衍射谱线成像在所述的X射线CCD(8)上,这些部件置于真空中,各元件的位置和参数必须满足一定关系:假设第一柱面金镜(3)到靶点s和X射线CCD(8)的距离分别为u1和v1,第二柱面金镜(4)到靶点s和竖直狭缝(6)的距离分别为u2和v2,所述的平场光栅(7)到竖直狭缝(6)和X射线CCD(8)的距离分别为u3和v3,EUV在第一柱面金镜(3)、第二柱面金镜(4)、平场光栅(7)上的入射角分别为θ1,θ2,θ3,第一柱面金镜(3)、第二柱面金镜(4)、平场光栅(7)的曲率半径为R1、R2、R3,则u1、v1、θ1和u2、v2、θ2必须满足柱面镜斜入射成像公式和几何关系u1+v1=u2+v2+u3+v3,所述的X射线CCD(8)的输出端接所述的计算机(9)。
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