[实用新型]一种按键开关寿命测试机无效

专利信息
申请号: 200820145740.4 申请日: 2008-09-25
公开(公告)号: CN201289519Y 公开(公告)日: 2009-08-12
发明(设计)人: 杨小岚;杨振华 申请(专利权)人: 厦门金思维电子有限公司
主分类号: G01R31/327 分类号: G01R31/327;G01M19/00
代理公司: 厦门市诚得知识产权代理事务所 代理人: 方惠春;黄国强
地址: 361006福建省厦门*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 实用新型涉及元件寿命测试装置,尤其涉及按键开关寿命的测试装置。本实用新型的按键开关寿命测试机,包括有:底座、机箱、设置于机箱内的控制电路和驱动电机、设置于机箱外的往复驱动机构、显示屏幕和控制键。本实用新型能够通过不同档位调节,实现不同强度的按键开关寿命测试。能够通过大功率可调电阻的调节,测试不同通电电流下的按键开关寿命。能够通过逻辑门电路组成的主控电路,可以实现档位自锁功能,避免跳档现象。因此可以适用于不同型号按键开关的机械或电气性能寿命测试。
搜索关键词: 一种 按键 开关 寿命 测试
【主权项】:
1、一种按键开关寿命测试机,该装置包括有:底座、机箱、设置于机箱内的控制电路和驱动电机、设置于机箱外的往复驱动机构、显示屏幕和控制键;其特征在于:所述往复驱动机构包括:偏心轮,拉动连杆往复运动,且受驱于与之联结的驱动电机;连杆,连接偏心轮与第一滑块;第一滑块,限制于导轨上且与连杆联结,通过连杆带动前后往复滑动于导轨;导轨,限定第一滑块和第二滑块在固定轨道前后往复移动;第二滑块,受驱于第一滑块且限制于导轨上,并与冲击头连杆连接;冲击头连杆,连接第二滑块与冲击头;冲击头,固定于冲击头连杆末端,用于冲击按键开关的按压部;锁固块,用于固定按键开关的卡紧装置;所述控制电路至少包括:主控电路,由逻辑门芯片组成;计数器模块,用于计数测试次数并电性连接于主控电路;电源模块,为控制电路和测试开关按键提供工作电源;可调限流模块,用于电路限流且可调。
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