[实用新型]芯片中模拟开关控制电路有效
申请号: | 200820056450.2 | 申请日: | 2008-03-21 |
公开(公告)号: | CN201185410Y | 公开(公告)日: | 2009-01-21 |
发明(设计)人: | 戴忠伟 | 申请(专利权)人: | 广芯电子技术(上海)有限公司 |
主分类号: | H03K17/687 | 分类号: | H03K17/687 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人: | 胡美强 |
地址: | 200030上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种芯片中模拟开关控制电路,包括:第一NMOS管、第一PMOS管;还包括:第二PMOS管、第三PMOS管、第四PMOS管;所述的第二PMOS管和第三PMOS管的栅极与第一PMOS管的栅极相接,所述的第二PMOS管和第三PMOS管的源极和衬底相连,并与第一PMOS管的衬底和第四PMOS管的漏极相接;第二PMOS管和第三PMOS管的漏极分别和第一PMOS管的源极和漏极相连;第四PMOS管的源极与VDD相接。与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:使开关关断后的漏电路减低到了最小,使开关打开后的导通电阻最小,电阻的平坦度最好。 | ||
搜索关键词: | 芯片 模拟 开关 控制电路 | ||
【主权项】:
1.一种芯片中模拟开关控制电路,包括:第一NMOS管、第一PMOS管;还包括:第二PMOS管、第三PMOS管、第四PMOS管;其特征在于:所述的第二PMOS管和第三PMOS管的栅极与第一PMOS管的栅极相接,所述的第二PMOS管和第三PMOS管的源极和衬底相连,并与第一PMOS管的衬底和第四PMOS管的漏极相接;第二PMOS管和第三PMOS管的漏极分别和第一PMOS管的源极和漏极相连;第四PMOS管的源极与VDD相接。
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