[发明专利]一种非极性GaN薄膜及其生长方法有效

专利信息
申请号: 200810200458.6 申请日: 2008-09-25
公开(公告)号: CN101364631A 公开(公告)日: 2009-02-11
发明(设计)人: 周健华;郝茂盛;颜建锋;潘尧波;周圣明 申请(专利权)人: 上海蓝光科技有限公司;彩虹集团公司;中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01S5/30
代理公司: 上海光华专利事务所 代理人: 余明伟
地址: 201203上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种非极性GaN薄膜及其生长方法,在金属有机物化学气相淀积(MOCVD)系统中,在铝酸锂(LiAlO2)衬底上,在N2保护下,升温到800-900℃,生长低温保护层,低温保护层反应室压力为150-500torr,三甲基镓(TMGa)流量为1-50sccm,对应于摩尔流量:4E-6mole/min-3E-4mole/min,然后降低压力至100-300torr,升温到1000-1100℃继续生长非掺杂氮化镓(U-GaN)层,TMGa流量为10-200sccm,对应于摩尔流量:4E-5mol/min-1E-3mole/min,然后再升温到1150-1200℃,生长高温U-GaN约100nm,然后再降温到1000-1100℃生长U-GaN。通过生长低温保护层,保护铝酸锂衬底不被高温破坏,短暂的高温U-GaN的目的是改善生长的GaN薄膜的表面平整度。
搜索关键词: 一种 极性 gan 薄膜 及其 生长 方法
【主权项】:
1.一种非极性GaN薄膜,其利用MOCVD系统在铝酸锂衬底上合成生长,其特征在于:该薄膜包括在铝酸锂衬底上依次生长的低温保护层、U-GaN(非掺杂氮化镓)层、高温U-GaN层及另一U-GaN层。
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