[发明专利]光盘、记录装置、读取装置、记录方法及读取方法无效
| 申请号： | 200810099110.2 | 申请日： | 2006-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN101266825A | 公开（公告）日： | 2008-09-17 |
| 发明（设计）人： | 甲斐田优;伊藤基志 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 王英 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 光盘1包括缺陷管理区(DMA)。在该缺陷管理区(DMA)的临时缺陷管理区(TDMS)中记录多个缺陷区列表(TDFL)和结构信息(TDDS)。所述多个缺陷区列表(TDFL)表明在访问该光盘1期间检测到的至少一个缺陷区。该结构信息(TDDS)包括表明所述缺陷区列表(TDFL)位置的多条位置信息。一对一地对应于所述缺陷区列表的所述多条位置信息，按照读取与所述多条位置信息对应的缺陷区列表(TDFL)的顺序，排列在该结构信息(TDDS)中。 | ||
| 搜索关键词： | 光盘 记录 装置 读取 方法 | ||
【主权项】：
1.一种以簇为单位将数据记录在上面的一次写入式光盘，这种一次写入式光盘包括临时缺陷管理区，其中：缺陷区列表和结构信息记录在所述临时缺陷管理区中，所述临时缺陷管理区有一个部分，在其中按照以下顺序排列所述缺陷区列表的多个部分：(1)缺陷区列表里在初始写入中成功写入的一部分；(2)缺陷区列表里在重试写入中成功写入的一部分；以及(3)缺陷区列表里最后一簇包括所述结构信息的一部分，其中缺陷区列表的每一部分都表明所述光盘中的至少一个缺陷区，以及所述结构信息包括多条位置信息，所述多条位置信息表明每个都包括所述缺陷区列表一部分的多个簇的簇位置。
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