[发明专利]凸块制程有效

专利信息
申请号: 200810095842.4 申请日: 2008-04-30
公开(公告)号: CN101266936A 公开(公告)日: 2008-09-17
发明(设计)人: 余瑞益;戴丰成 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 陆嘉
地址: 台湾省高雄市*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种凸块制程,是提供一晶片,该晶片具有一主动表面且该主动表面上具有至少一接垫,再覆盖一保护层于晶片的主动表面上,并裸露出接垫,接着形成一凸块下金属层于接垫上,再配置一胶膜于保护层上,并覆盖凸块下金属层。接着对胶膜进行选择性的曝光,使得位于凸块下金属层上方的胶膜受到曝光,并移除胶膜的曝光部分,使得凸块下金属层裸露。分布一锡膏于凸块下金属层上,并移除晶片上剩余的胶膜,再借助回焊制程使锡膏形成一金属凸块。
搜索关键词: 凸块制程
【主权项】:
1.一种凸块制程,包含下列步骤:提供一晶片,该晶片具有一主动表面及至少一接垫形成于该主动表面上;覆盖保护层于该晶片的主动表面上,并裸露出该接垫;形成凸块下金属层于该接垫上;配置胶膜于该保护层上,并覆盖该凸块下金属层;对该胶膜进行选择性的曝光,使得位在该凸块下金属层上方的胶膜受到曝光;移除该胶膜的曝光部分,并留下该胶膜未曝光的部分,以使得该凸块下金属层裸露;分布锡膏于该凸块下金属层上;移除该晶片上剩余的胶膜;及借助第二回焊制程使该锡膏形成金属凸块。
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