[发明专利]凸块制程有效
申请号: | 200810095842.4 | 申请日: | 2008-04-30 |
公开(公告)号: | CN101266936A | 公开(公告)日: | 2008-09-17 |
发明(设计)人: | 余瑞益;戴丰成 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 陆嘉 |
地址: | 台湾省高雄市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种凸块制程,是提供一晶片,该晶片具有一主动表面且该主动表面上具有至少一接垫,再覆盖一保护层于晶片的主动表面上,并裸露出接垫,接着形成一凸块下金属层于接垫上,再配置一胶膜于保护层上,并覆盖凸块下金属层。接着对胶膜进行选择性的曝光,使得位于凸块下金属层上方的胶膜受到曝光,并移除胶膜的曝光部分,使得凸块下金属层裸露。分布一锡膏于凸块下金属层上,并移除晶片上剩余的胶膜,再借助回焊制程使锡膏形成一金属凸块。 | ||
搜索关键词: | 凸块制程 | ||
【主权项】:
1.一种凸块制程,包含下列步骤:提供一晶片,该晶片具有一主动表面及至少一接垫形成于该主动表面上;覆盖保护层于该晶片的主动表面上,并裸露出该接垫;形成凸块下金属层于该接垫上;配置胶膜于该保护层上,并覆盖该凸块下金属层;对该胶膜进行选择性的曝光,使得位在该凸块下金属层上方的胶膜受到曝光;移除该胶膜的曝光部分,并留下该胶膜未曝光的部分,以使得该凸块下金属层裸露;分布锡膏于该凸块下金属层上;移除该晶片上剩余的胶膜;及借助第二回焊制程使该锡膏形成金属凸块。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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