[发明专利]微扭矩和微刚度测量装置无效

专利信息
申请号: 200810088193.5 申请日: 2008-02-05
公开(公告)号: CN101344448A 公开(公告)日: 2009-01-14
发明(设计)人: M·A·埃尔南德斯;Y·付;E·查 申请(专利权)人: 新科实业有限公司
主分类号: G01L3/00 分类号: G01L3/00;G11B5/48
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 刘华联
地址: 中国香港新界沙田香*** 国省代码: 中国香港;81
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摘要: 一种微扭矩和微刚度测量装置,用于对磁头悬架组件(HGA)进行测试,其中HGA设置成与固定在旋转台上的力传感器相接触。力传感器被调节成围绕着旋转台的旋转中心而定位。转动该旋转台,并且测量旋转期间HGA施加在力传感器上的扭矩及扭矩的变化。
搜索关键词: 扭矩 刚度 测量 装置
【主权项】:
1.一种用于测试磁头悬架组件的方法,包括:将所述磁头悬架组件放置成与安装在旋转台上的力传感器相接触;调节所述力传感器,以将所述力传感器围绕着所述旋转台的旋转中心定位;旋转所述旋转台;以及测量在所述旋转期间由所述磁头悬架组件施加在所述力传感器上的扭矩和扭矩的变化。
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