[发明专利]预准直孔系结构及其实现监测原子束冷却效果的方法无效

专利信息
申请号: 200810040207.6 申请日: 2008-07-04
公开(公告)号: CN101303412A 公开(公告)日: 2008-11-12
发明(设计)人: 李同保;马艳;张宝武;张文涛 申请(专利权)人: 同济大学
主分类号: G01T7/00 分类号: G01T7/00;G01T1/00
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 代理人: 吴林松
地址: 200092上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明为一种预准直孔系结构及其实现监测原子束冷却效果的方法。该预准直孔系结构,包括一个主预准直孔和两个监测孔,其中的两个监测孔的尺寸相同并且对称的分布于主预准直孔的两侧,三个孔的中心位于同一直线上。在激光汇聚原子束沉积过程中,当穿过主预准直孔的原子被沉积基片阻挡时,可通过监测穿过两侧监测孔的原子在荧光探测区产生的荧光斑点冷却前后相对于原子束中轴的分布情况来间接的反映穿过主预准直孔原子束的冷却效果。本发明结构简单,调节方便,容易实现,而且可以有效地监测穿过主预准直孔原子束的冷却效果。
搜索关键词: 预准直孔系 结构 及其 实现 监测 原子 冷却 效果 方法
【主权项】:
1、一种预准直孔系结构,其特征在于:其包含一个主预准直孔和两个监测孔,两个监测孔对称的分布于主预准直孔两侧。
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