[发明专利]X射线分析设备和X射线分析方法有效
| 申请号： | 200810003796.0 | 申请日： | 2008-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN101231256A | 公开（公告）日： | 2008-07-30 |
| 发明（设计）人： | 深井隆行;的场吉毅;长谷川清 | 申请（专利权）人： | 精工电子纳米科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G21K3/00;G21K5/02 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 张雪梅;刘宗杰 |
| 地址： | 日本千叶*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及X射线分析设备和X射线分析方法，其通过使X射线源稳定地工作而稳定地执行定量分析。X射线分析设备包括：X射线管状球管，将初级X射线照射到样品；初级X射线调整机构，能够调整初级X射线的强度；X射线探测器，探测从样品辐射的特征X射线和散射X射线，由此输出包括特征X射线和散射X射线的能量信息的信号；分析器，分析上述信号；以及入射X射线调整机构，置于样品和X射线探测器之间，并能够调整进入X射线探测器的特征X射线和散射X射线的总强度。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 分析 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种X射线分析设备，包含：辐射源，将辐射线照射到样品；辐射线调整机构，能够调整所述辐射线的强度；X射线探测器，探测从所述样品辐射的特征X射线和散射X射线，并输出包括所述特征X射线和散射X射线的能量信息的信号；分析器，分析所述信号；以及入射X射线调整机构，置于所述样品和所述X射线探测器之间，并调整进入所述X射线探测器的所述特征X射线和散射X射线的总强度。
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