[实用新型]磁方位仪校验架无效

专利信息
申请号: 200720103477.8 申请日: 2007-02-06
公开(公告)号: CN201003957Y 公开(公告)日: 2008-01-09
发明(设计)人: 魏春明;李园;雷艳平;顾凤娣 申请(专利权)人: 大港油田集团有限责任公司
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 北京市中实友知识产权代理有限责任公司 代理人: 唐维宁
地址: 30028*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 一种磁方位仪校验架。为了克服现有无磁磁方位仪校验架主体为圆柱体,不能实现定位目标传递,磁方位仪校准误差大的不足,本实用新型包括底座(1)、蜗轮副(9)、锁紧装置(11)、托架(16),主轴(8)的上部固定安装有镜片架(10),镜片架(10)为四方体,四方体的四个面上固定安装有光学反光镜片(13),光学反光镜片(13)由调整螺丝(14)通过压片(15)固定,托架(16)固定安装在镜片架(10)的上面。其有益效果是结构简单、操作便捷、无磁操作,校对精准。
搜索关键词: 方位 校验
【主权项】:
1.一种磁方位仪校验架,包括底座、蜗轮副、主轴、锁紧装置、托架,蜗轮副带动主轴转动,托架上有安装被校仪器的夹具,锁紧装置用于锁定蜗轮副,其特征是:主轴(8)上部固定安装有镜片架(10),镜片架(10)为四方体,四方体的四个面上固定安装有光学反光镜片(13),光学反光镜片(13)由调整螺丝(14)通过压片(15)固定,托架(16)固定安装在镜片架(10)的上面。
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