[实用新型]透过率脉动法颗粒测量装置无效

专利信息
申请号: 200720071745.2 申请日: 2007-06-27
公开(公告)号: CN201063015Y 公开(公告)日: 2008-05-21
发明(设计)人: 沈建琪;蔡小舒;于彬 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00;G01N21/59;G06F19/00;G06F17/15
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 代理人: 吴宝根
地址: 200093*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种透过率脉动法颗粒测量装置,窄光束照射到流过的颗粒产生透过率脉动信号,通过光电探测器检测,采用模拟电路处理信号,降低了对数据采集速度、数据采集量、储存量、处理量等方面的要求,缩短了数据处理时间,可实现实时测量。加入了参考光探测用于获得入射光强度变化信息,参考光探测起到校正作用,可避免光源不稳定对测量结果的干扰影响。可实现同时对颗粒平均粒径和浓度进行测试。对颗粒粒径与光束截面大小没有Gregory方法的限制,可测颗粒粒径范围大。本实用新型可用于科学研究、化工能源的生产与过程控制、环境保护、水质检测等涉及颗粒测量的多个领域。
搜索关键词: 透过 脉动 颗粒 测量 装置
【主权项】:
1.一种透过率脉动法颗粒测量装置,其特征在于,它由测量区、获得入射光强度的参考光探测器、产生光束线度范围在10微米到1.5毫米之间的窄光束产生器、光电探测器和与其连接的信号处理装置构成。
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