[发明专利]一种次流场瞬态特性的测量方法无效
| 申请号： | 200710307707.7 | 申请日： | 2007-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN101210935A | 公开（公告）日： | 2008-07-02 |
| 发明（设计）人： | 王顺森;毛靖儒;刘观伟;丰镇平 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01P5/20 | 分类号： | G01P5/20;G01P11/00 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 | 代理人： | 李郑建 |
| 地址： | 710049*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种次流场瞬态特性的测量方法，该方法采用常规的PIV系统，通过对PIV系统中双脉冲激光器的光路进行调制，使其发出的两束片光相互平行但不重叠，相互偏移的距离等于或接近示踪粒子沿主流方向的位移s1；两束片光在不同时刻分别打在两个测量截面上，使片光跟随主流运动；本发明的方法使得次流瞬态流场的测量如主流场测量一样可靠，特别是对于无法用常规PIV测量的次流平均速度低于20％主流速度的弱次流场，其精度接近于对主流的测量，且具有非常高的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 次流场 瞬态 特性 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种次流场瞬态特性的测量方法，该方法采用常规的PIV系统，其特征在于，对PIV系统的双脉冲激光器的光路进行调制，使其发出的两束片光相互平行但不重叠，两束片光相互偏移的距离s等于或接近示踪粒子沿主流方向的位移s1；两束片光相互偏移距离s的范围是：0.5s1≤s≤1.5s1；两束片光在不同时刻分别打在两个测量截面上，使片光跟随主流运动。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安交通大学，未经西安交通大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200710307707.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：饰面板
- 下一篇：生成、优化和管理粒度广告活动的方法和设备
