[发明专利]系统模组的测试方法与装置

摘要

一种系统模组的测试方法，可在大量生产期间用来测试集成电路所组成的系统模组。集成电路和其组成的系统模组皆由相同一制造者所制造。该方法包含：在系统模组上进行系统测试，以确定系统模组的性能；接着，根据系统测试的结果核对集成电路的性能；最后，进行集成电路测试，其中集成电路测试包含在系统测试中无法检测的测试项目。一种测试系统模组的测试装置，包含：一系统测试部分，用来在该系统模组上进行多个系统测试，以确定该系统模组和所述集成电路的多个性能；以及一集成电路测试部分，用来进行所述系统测试中无法检测的多个集成电路测试。所述的测试方法和装置中，系统测试涵盖多数集成电路性能测试，减少了重复测试。

主权项

1.一种测试系统模组的测试方法，可应用在大量生产期间用以测试由多个集成电路组成的一系统模组，其中所述集成电路和该系统模组由相同的一制造者所制造，其特征在于，该测试方法包含：在该系统模组上进行多个系统测试以确定该系统模组的多个性能；根据所述系统测试的结果核对所述集成电路的多个性能；以及进行多个集成电路测试，其中所述集成电路测试包含所述系统测试中无法检测的多个测试项目。