[发明专利]多阶单元存储器的编程方法有效

专利信息
申请号: 200710138320.3 申请日: 2007-07-27
公开(公告)号: CN101354919A 公开(公告)日: 2009-01-28
发明(设计)人: 何信义;邹年凯;黄怡仁;林永丰 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: G11C16/10 分类号: G11C16/10
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 葛宝成;黄小临
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种MLC存储器的编程方法,MLC存储器包括多个位,每一位具有多个编程状态,每一编程状态具有一编程验证(PV)值。本方法包括a)使用位线偏压BL来编程存储器中具有阈值电压(Vt)值小于一预定编程状态的PV值的位;b)当存储器中所有位的Vt值皆不低于预定编程状态的PV值时,结束本方法,否则继续步骤c);以及c)当所有编程位的Vt值皆低于PV值时,则设定BL=BL+K1并重复步骤(a),而当至少一编程位的Vt值不低于PV值时,则设定BL=BL-K2并重复步骤a)其中,K1及K2为固定的正值。
搜索关键词: 单元 存储器 编程 方法
【主权项】:
1.一种多阶单元存储器的编程方法,该多阶单元存储器包括多个位,该多阶单元存储器具有多个编程状态,各所述编程状态具有一编程验证值,该方法包括:a)使用一位线偏压BL来编程该存储器中具有阈值电压值小于一预定编程状态的该PV值的位,以成为编程位,其中,该位线偏压BL值大于0;b)当该存储器中所有所述位的Vt值皆不低于该预定编程状态达到该PV值时,结束本方法,否则继续下一步骤c);以及c)当所述编程位的Vt值皆低于该PV值时,设定BL=BL+K1并重复该步骤a),而当所述编程位其中至少一编程位的Vt值不低于该PV值时,设定BL=BL-K2并重复该步骤a),其中,K1及K2为固定的正值。
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