[发明专利]试样分析仪及其容器传送装置有效
申请号: | 200710102094.3 | 申请日: | 2007-05-17 |
公开(公告)号: | CN101074964A | 公开(公告)日: | 2007-11-21 |
发明(设计)人: | 喜多川信宏 | 申请(专利权)人: | 希森美康株式会社 |
主分类号: | G01N35/02 | 分类号: | G01N35/02;G01N35/04;G01N35/10 |
代理公司: | 北京金之桥知识产权代理有限公司 | 代理人: | 梁朝玉;刘良勇 |
地址: | 日本兵库县神户市*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种可以稳定供应制备试样用容器的试样分析仪。此试样分析仪(1)具备:存放数个制备试样用制样管(200)的第一容器仓(11)、从第一容器仓(11)取出数个制样管(200)的制样管运送器(20)、存放制样管运送器(20)运出的数个制样管(200)的第二容器仓(31)、逐个从第二容器仓(31)运出制样管(200)的运送轨道(51)、检测运送轨道(51)的制样管(200)运送状态的传感器(52)、根据传感器(52)探测结果控制制样管运送器(20)运行的控制器(4a)和在运送轨道(51)运出的制样管(200)中制备试样的分析系统(7)。其中,控制器(4a)具有分析制备好的试样的功能。 | ||
搜索关键词: | 试样 分析 及其 容器 传送 装置 | ||
【主权项】:
1.一种试样分析仪,包括:存放数个制样用容器的第一存放器;运出上述第一储管器存放的容器的第一运送器;存放第一运送器运出容器的第二存放器;将存放在上述第二存放器的容器逐个运出的第二运送器;检测上述第二运送器容器运送状态的检测器;根据上述检测器的检测结果控制上述第一运送器运行的控制器;在上述第二运送器运出的容器中制备试样的制样器;及分析上述制样器制备的试样的分析器。
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