[发明专利]基板测试接口及其方法有效

专利信息
申请号: 200710079231.6 申请日: 2007-02-13
公开(公告)号: CN101246445A 公开(公告)日: 2008-08-20
发明(设计)人: 陈冠廷;蔡明升;邓书亘;凌国钧 申请(专利权)人: 仁宝电脑工业股份有限公司
主分类号: G06F11/267 分类号: G06F11/267;G06F3/147;H01R12/14
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汤保平
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明是关于一种基板测试接口,其包括:一基板,其上包含若干第一电子元件、若干信号线及一第一连接接口,且该第一电子元件是与该信号线相互连接;一插槽,是位于该基板上,其可供插接一外接式适配卡;以及一除错卡,是可插置于该插槽中,其上包含若干第二电子元件及一第二连接接口;当该除错卡插置于该插槽中以固持在该基板上时,该第二连接接口将与该第一连接接口接触,使信号可以在该基板及该除错卡间传送。此外,本发明亦提供一种基板测试方法。
搜索关键词: 测试 接口 及其 方法
【主权项】:
1. 一种基板测试接口,其特征在于,其包括:一基板,其上包含若干第一电子元件与若干信号线且该第一电子元件是与该信号线相互连接;一插槽,是位于该基板上,其可供插接一外接式适配卡并用以固定一除错卡;以及一第一连接接口,位于该基板上之一区域并用以与该除错卡上的一第二连接接口相互连结,以通过该第一连接接口与该第二连接接口在该基板与该除错卡间传送一信号,其中该区域为该除错卡与该基板结合时,该除错卡于一轴向垂直映像至该基板的区域且该第一连接接口通过该信号线与部份该第一电子元件连接。
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