[发明专利]测量完整性的设备和方法有效
| 申请号： | 200710078884.2 | 申请日： | 2007-02-16 |
| 公开（公告）号： | CN101025762A | 公开（公告）日： | 2007-08-29 |
| 发明（设计）人： | 崔贤真;郑勍任;郑明俊 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F17/30 | 分类号： | G06F17/30;G06F12/02;H04L9/28 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 韩明星;安宇宏 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测量完整性的设备和方法，其中，避免了将测量完整性的对象不必要地加载到存储器。该设备包括：映射模块，将多个第二对象中的至少一个第二对象加载到存储器中，所述多个第二对象根据存储器的分配单位从第一对象分割；存储器模块，存储所分割的第二对象的哈希值；测量模块，通过将所加载的第二对象的哈希值与存储在存储器模块中的哈希值作比较来测量第一对象的完整性。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 完整性 设备 方法 | ||
【主权项】：
1、一种用于测量完整性的设备，该设备包括：映射模块，将多个第二对象中的至少一个第二对象加载到存储器中，所述多个第二对象根据存储器的分配单位从第一对象分割；存储器模块，存储所分割的第二对象的哈希值；测量模块，通过将所加载的第二对象的哈希值与存储在存储器模块中的哈希值作比较来测量第一对象的完整性。
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