[发明专利]一种测试多径衰落的方法、装置和系统无效
| 申请号： | 200710076193.9 | 申请日： | 2007-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN101079675A | 公开（公告）日： | 2007-11-28 |
| 发明（设计）人： | 李成恩;段亚军;尹成刚;秦国强;李健;崔巧云 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00;H04B1/707 |
| 代理公司： | 深圳市君胜知识产权代理事务所 | 代理人： | 王永文 |
| 地址： | 518057广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测试多径衰落的方法、装置和系统，其方法包括步骤：根据行业标准，选择多径衰落的测试模式；启动综合测试仪，依据测试模式，设置所述综合测试仪的参数；依据测试模式确定各信道路径的时延，设置各信道路径的延时器；依据测试模式确定各信道路径的衰减量，设置各信道路径的衰减器；建立所述综合测试仪与测试终端的通信；进行所述测试终端的多径衰落性能测试。还提供了相应的装置和系统，从而为用户提供了一种测试多径衰落的替代方案，费用低，可以固化、反复使用，操作简单，适合在广大测试人员中推广，给企业节约了费用，给工程师提供方便，缩短产品开发周期，最终提升产品质量和企业的核心竞争力。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 衰落 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
1、一种测试多径衰落的方法，其包括步骤：A1、根据行业标准，选择多径衰落的测试模式；A2、启动综合测试仪，依据所述测试模式，设置所述综合测试仪的参数；A3、依据所述测试模式确定各信道路径的时延，设置各信道路径的延时器；A4、依据所述测试模式确定各信道路径的衰减量，设置各信道路径的衰减器；A5、建立所述综合测试仪与测试终端的通信；A6、进行所述测试终端的多径衰落性能测试。
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