[发明专利]ZnO金属肖特基接触的制备方法及其在紫外探测器中的应用无效
申请号: | 200710065075.8 | 申请日: | 2007-04-02 |
公开(公告)号: | CN101030533A | 公开(公告)日: | 2007-09-05 |
发明(设计)人: | 张天冲;梅增霞;郑浩;杜小龙;薛其坤;罗强;顾长志 | 申请(专利权)人: | 中国科学院物理研究所 |
主分类号: | H01L21/04 | 分类号: | H01L21/04;H01L21/28;H01L31/18 |
代理公司: | 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 尹振启 |
地址: | 100080北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种利用MBE低温生长法在ZnO单晶薄膜表面原位制备金属薄膜电极而形成肖特基接触的方法,尤其是超高真空原位沉积金属导电薄膜的方法。其步骤为:利用超高真空传样系统,将MBE生长室制备好的ZnO单晶薄膜样品直接经超高真空环境传送至电极蒸镀室,该室的样品台具有冷却功能,在这里,将ZnO薄膜样品冷却到室温以下(≤20℃)并维持,然后开始用MBE方法进行低温下金属薄膜的沉积。使用本方法能够获得在ZnO表面连续且均匀沉积的金属导电膜,可用于金属-半导体肖特基接触及相关器件的制备与研究,特别是通过金属银与n型ZnO所形成的良好肖特基结来制备高光电响应的ZnO基紫外探测器。 | ||
搜索关键词: | zno 金属 肖特基 接触 制备 方法 及其 紫外 探测器 中的 应用 | ||
【主权项】:
1.一种在ZnO单晶薄膜表面沉积金属导电薄膜的方法,其具体步骤如下:1)将MBE腔生长的单晶ZnO薄膜通过超高真空传样系统导入与之相连的电极蒸镀系统,该系统同样具备超高真空背景气压,同时它的样品台还具有冷却功能;2)在超高真空背景下,将ZnO薄膜样品冷却至室温以下并维持;3)在样品已达到低温的条件下,通过控制金属扩散炉的温度来沉积金属薄膜。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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