[发明专利]ZnO金属肖特基接触的制备方法及其在紫外探测器中的应用无效

专利信息
申请号: 200710065075.8 申请日: 2007-04-02
公开(公告)号: CN101030533A 公开(公告)日: 2007-09-05
发明(设计)人: 张天冲;梅增霞;郑浩;杜小龙;薛其坤;罗强;顾长志 申请(专利权)人: 中国科学院物理研究所
主分类号: H01L21/04 分类号: H01L21/04;H01L21/28;H01L31/18
代理公司: 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 代理人: 尹振启
地址: 100080北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种利用MBE低温生长法在ZnO单晶薄膜表面原位制备金属薄膜电极而形成肖特基接触的方法,尤其是超高真空原位沉积金属导电薄膜的方法。其步骤为:利用超高真空传样系统,将MBE生长室制备好的ZnO单晶薄膜样品直接经超高真空环境传送至电极蒸镀室,该室的样品台具有冷却功能,在这里,将ZnO薄膜样品冷却到室温以下(≤20℃)并维持,然后开始用MBE方法进行低温下金属薄膜的沉积。使用本方法能够获得在ZnO表面连续且均匀沉积的金属导电膜,可用于金属-半导体肖特基接触及相关器件的制备与研究,特别是通过金属银与n型ZnO所形成的良好肖特基结来制备高光电响应的ZnO基紫外探测器。
搜索关键词: zno 金属 肖特基 接触 制备 方法 及其 紫外 探测器 中的 应用
【主权项】:
1.一种在ZnO单晶薄膜表面沉积金属导电薄膜的方法,其具体步骤如下:1)将MBE腔生长的单晶ZnO薄膜通过超高真空传样系统导入与之相连的电极蒸镀系统,该系统同样具备超高真空背景气压,同时它的样品台还具有冷却功能;2)在超高真空背景下,将ZnO薄膜样品冷却至室温以下并维持;3)在样品已达到低温的条件下,通过控制金属扩散炉的温度来沉积金属薄膜。
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