[发明专利]双通道共振增强激光诱导击穿光谱痕量元素分析仪及方法无效
申请号: | 200710028438.0 | 申请日: | 2007-06-05 |
公开(公告)号: | CN101067603A | 公开(公告)日: | 2007-11-07 |
发明(设计)人: | 李润华;黎洪坤;陈志江;刘明;何道航 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | G01N21/63 | 分类号: | G01N21/63 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李卫东 |
地址: | 510640广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种双通道共振增强激光诱导击穿光谱痕量元素分析仪,包括激光器、单色仪、光电探测器、示波器和计算机,所述激光器通过分束片BS与样品通道、光源通道光信号连接;在光源通道上依次设置有透镜L1、共振光源、耦合透镜组L3和L4;在样品通道上依次设置有反射镜RM1、透镜L2;样品通道、光源通道与样品光信号连接,样品通过光收集系统与单色仪光信号连接,单色仪和光电探测器连接,光电探测器和示波器连接,示波器和计算机连接。也公开了一种双通道共振增强激光诱导击穿光谱痕量元素分析仪的分析方法。本分析仪,结构简单,成本低,大大提高了分析灵敏度,降低了检测限。 | ||
搜索关键词: | 双通道 共振 增强 激光 诱导 击穿 光谱 痕量 元素 分析 方法 | ||
【主权项】:
1、双通道共振增强激光诱导击穿光谱痕量元素分析仪,包括激光器、单色仪、光电探测器、示波器和计算机,其特征在于:所述激光器通过分束片(BS)与样品通道、光源通道光信号连接;在光源通道上依次设置有透镜(L1)、共振光源、耦合透镜组(L3)和(L4);在样品通道上依次设置有反射镜(RM1)、透镜(L2);样品通道、光源通道与样品光信号连接,样品通过光收集系统与单色仪光信号连接,单色仪和光电探测器连接,光电探测器和示波器连接,示波器和计算机连接。
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