[发明专利]光学记录/再现设备、光学拾波器和跟踪误差检测方法无效

专利信息
申请号: 200710004034.8 申请日: 2007-01-19
公开(公告)号: CN101017677A 公开(公告)日: 2007-08-15
发明(设计)人: 齐藤公博;高木胜治;石本努 申请(专利权)人: 索尼株式会社
主分类号: G11B7/135 分类号: G11B7/135;G11B7/09
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 王岳;刘宗杰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种光学记录/再现设备包括光学拾波器和控制部分。光学拾波器包括:检测部分;光学系统,其通过具有1或更大的数字孔径的聚光透镜将来自光源的光辐射到光记录介质上作为近场光,并且将由光记录介质反射的光朝检测部分引导;和驱动聚光透镜的驱动部分。光学记录/再现设备在光学拾波器的检测部分检测的光学输出的基础上执行控制以便在光记录介质上进行记录和/或从光记录介质进行再现。光学系统包括分束器,其将来自光记录介质的反射光的P偏振成分和S偏振成分都进行反射,和分离部分,其分离由分束器反射的P偏振成分和S偏振成分。检测部分各自检测由分离部分分离的P偏振成分和S偏振成分。
搜索关键词: 光学 记录 再现 设备 拾波器 跟踪 误差 检测 方法
【主权项】:
1.一种光学记录/再现设备,包括光学拾波器和控制部分,光学拾波器包括:检测部分;光学系统,其通过具有1或更大的数字孔径的聚光透镜将来自光源的光辐射到光记录介质上作为近场光,并且将由光记录介质反射的光朝检测部分引导;和驱动聚光透镜的驱动部分,光学记录/再现设备被配置为根据光学拾波器的检测部分检测的光学输出来执行控制以便在光记录介质上进行记录和/或从光记录介质进行再现,其中光学系统包括分束器,其将来自光记录介质的反射光的P偏振成分和S偏振成分都进行反射,和分离部分,其分离由分束器反射的P偏振成分和S偏振成分,其中检测部分各自检测由分离部分分离的P偏振成分和S偏振成分,其中检测部分包括至少第一检测部分,其检测具有与入射在光记录介质上光的偏振相同的偏振成分,和第二检测部分,其检测与入射在光记录介质上光的偏振正交的偏振成分,其中第一和第二检测部分都包括两个或更多的光接收区域,这些区域至少在与光记录介质的记录轨道伸展方向对应的方向上分路,其中利用第一差信号和第二差信号,通过计算而获得校正了聚光透镜偏移量的跟踪控制信号,第一差信号是第一检测部分的光接收区域的差信号,这些光接收区域在与记录轨道伸展方向对应的方向上分路,第二差信号是第二检测部分的光接收区域的差信号,这些光接收区域在与记录轨道伸展方向对应的方向上分路,并且其中控制部分根据跟踪控制信号来控制驱动部分。
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