[发明专利]用于测量头万向架组件振动特性的装置有效
| 申请号： | 200710001859.4 | 申请日： | 2007-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN101004357A | 公开（公告）日： | 2007-07-25 |
| 发明（设计）人： | 半谷正夫;安藤利树;西田辰彦 | 申请（专利权）人： | 日本发条株式会社 |
| 主分类号： | G01H9/00 | 分类号： | G01H9/00;G01H17/00;G01M19/00;G01M7/02 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人： | 张敬强 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种安全测量头万向架组件振动特性的装置并且具有设置的宽范围的共振频率，该装置具有检测振动机的振动速率的第一激光多普勒振动计，检测固定在固定设备上的头万向架组件的头的振动速率的第二激光多普勒振动计，以及一个用于垂直反射自第一激光多普勒振动计向固定到振动机的固定设备发射激光束的反射镜，并且该装置根据检测的振动速率得到头万向架组件的振动特性。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 万向 组件 振动 特性 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于测量头万向架组件振动特性的装置，包括：一个配置用于使头万向架组件振动的振动机；一个配置用于将头万向架组件固定到振动机的固定设备；一个配置用于检测振动机振动速率的第一激光多普勒振动计；以及一个配置用于检测头万向架组件的头的振动速率的第二激光多普勒振动计，该装置根据检测的振动速率得到头万向架组件的振动特性。
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