[发明专利]检测厚度和厚度变化的设备有效
| 申请号： | 200680012740.0 | 申请日： | 2006-05-05 |
| 公开（公告）号： | CN101180513A | 公开（公告）日： | 2008-05-14 |
| 发明（设计）人： | R·施莱特;J·曼哈特 | 申请（专利权）人： | BEB工业电子股份公司 |
| 主分类号： | G01B7/06 | 分类号： | G01B7/06;G07D7/16 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 | 代理人： | 周建秋;王凤桐 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 本发明涉及一种设备，该设备的基本特征在于：当通过导向元件(1，2)输送平面物体、尤其是有价票据时，由具有导电元件(7)的一个或者多个平面空心线圈(6)对一个或者多个第二导向元件(2)相对于第一导向元件(1)的偏移进行检测。由此产生磁交变场，该磁交变场受到导电元件(7)的位置变化的影响。所述交变场在导电元件(7)中产生涡流，该涡流又反过来影响交变场。当平面线圈作为LC振荡电路的组成元件时，该振荡电路的共振频率和衰减特性受到影响。在激励频率恒定不变时，振荡振幅发生变化。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 厚度 变化 设备 | ||
【主权项】：
1.一种设备，该设备用于测量平面物体(3)尤其是有价票据的厚度或者厚度变化，该设备包括：至少一个第一导向元件(1)和多个第二导向元件(2)，在第一导向元件(1)和第二导向元件(2)之间输送平面状物体，其中，所述第二导向元件(2)位于所述第一导向元件(1)的对面，并且所述多个第二导向元件(2)互相并排安置成一行，因此在所述导向元件(1，2)之间穿过的平面物体的厚度变化导致一个或者多个第二导向元件(2)相对于第一导向元件(1)发生偏移；多个平面线圈(6，6a，6b)，其中为每个第二导向元件(2)配置一个平面线圈；以及用于激励平面线圈(6，6a，6b)来产生磁交变场的组件；多个导电元件(7)，其中每个所述第二导向元件(2)直接或者间接地与该导电元件(7)刚性地连接在一起，并且所述第二导向元件(2)的偏移导致相应的导电元件(7)发生偏移；运算电子器件(8)，用来检测所述导电元件(7)对于所述平面线圈(6)的磁交变场的影响，其中所述平面线圈(6)制作成空心线圈。
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