[发明专利]冗余式磁盘阵列存储数据可靠性测试方法及系统

摘要

一种冗余式磁盘阵列存储数据可靠性测试方法及系统，其可应用于对一冗余式磁盘阵列(Redundant Array of Independent Disks，RAID)进行一存储数据可靠性测试程序，以测试该磁盘阵列的存储数据是否具有可靠性；且其特点在于对该磁盘阵列进行3项测试程序：冗余式存储数据测试程序、磁盘删减测试程序及磁盘增加测试程序，由此即可完整地测试出RAID Level 1镜射存储模式的操作可靠性。

主权项

1.一种冗余式磁盘阵列存储数据可靠性测试方法，其可应用于一计算机平台，且该计算机平台配有一磁盘阵列装置，用以对该磁盘阵列装置进行存储数据可靠性测试程序；其特征在于，此冗余式磁盘阵列存储数据可靠性测试方法至少包括：一冗余式存储数据测试程序，用以测试该冗余式磁盘阵列的冗余数据是否正确；一磁盘删减测试程序，用以仿真测试该冗余式磁盘阵列于其中一个成员磁盘损毁后，是否仍可正常运作，并可读取出正确的数据；以及一磁盘增加测试程序，用以测试该冗余式磁盘阵列新增加一个成员磁盘后，是否可于该新增加的成员磁盘上正确地存储数据。