[发明专利]性能测试系统无效
| 申请号： | 200610094276.6 | 申请日： | 2006-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN101097238A | 公开（公告）日： | 2008-01-02 |
| 发明（设计）人： | 洪孟佳;石新海 | 申请（专利权）人： | 英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/40;G01R31/42 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人： | 程伟 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开一种性能测试系统，对一电子设备进行瞬间抗冲击电流的性能测试，该性能测试系统包括：一交流电源供应单元，与该电子设备的输入端电性连接、一直流负载供应单元，与该电子设备的输出端电性连接以及一控制单元，分别与该交流电源供应单元及该直流负载供应单元电性连接，分别调变该交流电源供应单元提供的交流电源，以及调变该直流负载供应单元提供的负载。本发明的性能测试系统通过提供一控制单元来集中控制及统一协调进行的测试设备，提高测试作业的系统集成度，简化了操作步骤、降低了测试复杂性、减少了测试耗时，并提高测试效率；另外，本发明的性能测试系统实现相互间的测试同步，满足测试的时序要求。 | ||
| 搜索关键词： | 性能 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种性能测试系统，对电子设备进行瞬间抗冲击电流的性能测试，其特征在于，该性能测试系统包括：一交流电源供应单元，与该电子设备的输入端电性连接，为该电子设备提供一交流电源；一直流负载供应单元，与该电子设备的输出端电性连接，为该电子设备提供一负载；以及一控制单元，分别与该交流电源供应单元及该直流负载供应单元电性连接，依据预设的测试要求，分别调变该交流电源供应单元提供的交流电源，控制该交流电源的输出，以及调变该直流负载供应单元提供的负载，控制该负载的加载，测试该电子设备的瞬间抗冲击电流性能。
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