[发明专利]控制空间温度分布的方法和装置无效
申请号: | 200580047289.1 | 申请日: | 2005-12-01 |
公开(公告)号: | CN101111934A | 公开(公告)日: | 2008-01-23 |
发明(设计)人: | 尼尔·本杰明;罗伯特·J·斯蒂格 | 申请(专利权)人: | 蓝姆研究公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 王允方;刘国伟 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种用于等离子处理器的夹盘包含温度控制基底、热绝缘体、平面支撑件和加热器。在操作中将所述温度控制基底的温度控制为低于工件的所要温度。所述热绝缘体安置于所述温度控制基底的至少一部分上方。所述平面支撑件固持工件且安置于所述热绝缘体上方。加热器嵌入所述平面支撑件内部和/或安装于所述平面支撑件的底面上。所述加热器包括加热多个相应加热区的多个加热元件。每一加热元件的所供应功率和/或温度被独立地控制。所述加热器和平面支撑件具有至少每秒1℃的组合温度变化速率。 | ||
搜索关键词: | 控制 空间 温度 分布 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种用于等离子处理器的夹盘,其包含:温度控制基底,其具有低于工件的所要温度的温度;热绝缘材料层,其安置于所述基底上;平面支撑件,其用于固持所述工件,所述平面支撑件安置于所述热绝缘材料层上;以及加热器,其耦合到所述平面支撑件的底面,所述加热器包括对应于所述平面支撑件中的多个加热区的多个平面加热元件,其中所述加热器具有至少每秒1℃的温度变化速率。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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