[发明专利]短尾读写头万向架组件测试夹具无效
申请号: | 200580046239.1 | 申请日: | 2005-01-10 |
公开(公告)号: | CN101099123A | 公开(公告)日: | 2008-01-02 |
发明(设计)人: | Y·赵;S·黄 | 申请(专利权)人: | 新科实业有限公司 |
主分类号: | G06F1/16 | 分类号: | G06F1/16 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 张雪梅;张志醒 |
地址: | 中国香港新界沙田香*** | 国省代码: | 中国香港;81 |
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摘要: | 公开了一种用于测试读/写头在HGA级上的动态电性能的方法和系统。头万向架组件(HGA)测试系统具有保持硬盘的旋转台和通过HGA发送测试信号的测试器。该测试器通过前置放大器板发送其信号。应用探针卡将该前置放大器板连接到HGA。一个或多个弹簧针的组将前置放大器板连接到探针卡。该探针卡的探针可以在距离弹簧针预定的节距处。 | ||
搜索关键词: | 短尾 读写 万向 组件 测试 夹具 | ||
【主权项】:
1.一种测试探针卡,包括:一个或多个接合垫的组,被一个或多个弹簧针的组电耦合于前置放大器;一个或多个探针的组,用于提供与头万向架组件的电接触;以及印刷电路板,将该一个或多个接合垫电耦合于该一个或多个探针。
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