[发明专利]质谱分析装置、质谱分析方法和质谱分析程序无效
| 申请号： | 200580018687.0 | 申请日： | 2005-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN1965232A | 公开（公告）日： | 2007-05-16 |
| 发明（设计）人： | 内田和彦;佐藤优美;西口纯也;山崎信介 | 申请（专利权）人： | 株式会社山武 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 | 代理人： | 季向冈 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种能够准确分析质谱的质谱分析装置、质谱分析方法和质谱分析程序。本发明的质谱分析装置，是一种分析对多个样本进行测量得到的质谱的质谱分析装置，包括：峰值位置检测装置(14)，检测质谱出现峰值的峰值位置；和重合度计算装置(15)，基于在多个质谱中关于质量数具有宽度的窗所包含的峰值位置的数，计算峰值的重合度。 | ||
| 搜索关键词： | 谱分析 装置 方法 程序 | ||
【主权项】：
1.一种质谱分析装置，分析对多个样本进行测量得到的质谱，其特征在于：包括峰值位置检测装置，检测上述质谱出现峰值的峰值位置；和重合度计算装置，基于关于质量数具有宽度的窗中所包含的在多个上述质谱中检测出的上述峰值位置的个数，计算峰值的重合度。
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