[发明专利]碲化汞镉的制造有效
申请号: | 200580018429.2 | 申请日: | 2005-04-05 |
公开(公告)号: | CN1965111A | 公开(公告)日: | 2007-05-16 |
发明(设计)人: | J·E·海尔斯;J·吉斯;J·W·凯恩斯;A·格拉哈姆;L·布克尔;D·J·哈尔;N·T·戈顿 | 申请(专利权)人: | 秦内蒂克有限公司 |
主分类号: | C30B25/02 | 分类号: | C30B25/02;C30B29/52;C30B23/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 刘锴;段晓玲 |
地址: | 英国*** | 国省代码: | 英国;GB |
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摘要: | 公开了一种制造碲化汞镉(CMT)的方法,方法包括通过分子束外延(MBE)在衬底上生长一个或多个缓冲层。随后通过金属有机气相外延(MOVPE)生长至少一个碲化汞镉Hg1-xCdxTe层,其中x在(0)和(1)之间,并包括(0)和(1)。使用MBE生长缓冲层允许一系列的衬底用于CMT生长。MBE缓冲层为后来的CMT的MOVPE生长提供了正确的取向,还防止了MOVPE过程中CMT的化学污染和衬底的侵蚀。方法还允许利用晶体CMT层和/或钝化层的进一步MOVPE生长来进行CMT层的器件加工。本发明还涉及通过方法形成的新器件。 | ||
搜索关键词: | 碲化汞镉 制造 | ||
【主权项】:
1.一种生长碲化汞镉Hg1-xCdxTe的方法,其中0≤x≤1,包括以下步骤:a)取一晶体衬底,b)通过分子束外延在所述衬底上生长至少一个缓冲层,和c)通过金属-有机气相外延在所述至少一个缓冲层上生长至少一个碲化汞镉层。
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