[实用新型]新型纳米治具无效
| 申请号： | 200520058404.2 | 申请日： | 2005-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN2804878Y | 公开（公告）日： | 2006-08-09 |
| 发明（设计）人： | 郭红建;郭凯 | 申请（专利权）人： | 郭红建 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R1/067;G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州三环专利代理有限公司 | 代理人： | 温旭 |
| 地址： | 519000广东省珠海市九洲*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及治具，特别涉及一种新型纳米治具。现在使用的治具结构过于复杂、成本高、易损坏待测电路板。为解决上述技术问题，本新型纳米治具包括由绝缘板、测试针、测试接口组成的针床，其中，测试针直接固定在绝缘板上或者穿过绝缘板并与之滑配，且测试针的下端与绝缘底板的上表面接触，其特征在于：其还包括覆盖在针床上的弹性垂直导电层；所述测试针通过导线与测试接口连接；所述弹性垂直导电层由定向导电材料制成。采用上述技术方案后，本新型纳米治具具有结构简单、成本低廉，不易损伤电路板的优点，广泛适用于各种印刷电路板的检测过程中。 | ||
| 搜索关键词： | 新型 纳米 | ||
【主权项】：
1、一种新型纳米治具，包括由绝缘板、测试针、测试接口组成的针床，其中，测试针直接固定在绝缘板上或者穿过绝缘板并与之滑配，且测试针的下端与绝缘底板的上表面接触，其特征在于：其还包括覆盖在针床上的弹性垂直导电层；所述测试针通过导线与测试接口连接；所述弹性垂直导电层由定向导电材料制成。
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