[发明专利]带有存储器的半导体器件和存储器测试的方法无效
| 申请号： | 200510062803.0 | 申请日： | 2005-02-07 |
| 公开（公告）号： | CN1667755A | 公开（公告）日： | 2005-09-14 |
| 发明（设计）人： | 櫛田桂一;平林修 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G11C7/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 臧霁晨 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 公开了一种半导体器件，该半导体器件具有：存储数据的数据存储器和存储与所述数据对应的ECC码的码存储器。该半导体器件包括ECC电路，该电路将用于执行所述数据存储器的测试的测试码模式作为所述数据输出到所述数据存储器，并且由该测试码模式生成具有差错检测功能的码信息，作为所述ECC码输出到所述码存储器。 | ||
| 搜索关键词： | 带有 存储器 半导体器件 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种半导体器件，包括：存储数据的数据存储器；存储与所述数据对应的差错校正码(ECC码)的码存储器；以及将用于执行所述数据存储器的测试的测试码模式作为所述数据输出到所述数据存储器，并且，由该测试码模式生成具有差错检测功能的码信息，作为所述ECC码输出到所述码存储器的差错校正单元(ECC单元)。
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