[发明专利]校准方法和计算X线体层照相装置无效

专利信息
申请号: 03164830.4 申请日: 2003-09-29
公开(公告)号: CN1602809A 公开(公告)日: 2005-04-06
发明(设计)人: 王学礼;乡野诚 申请(专利权)人: GE医疗系统环球技术有限公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;G01N23/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 程天正;张志醒
地址: 美国威*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 实现以适当频度进行校准的方法、和具备进行这种校准的单元的X射线CT装置。向校准对象提供预定条件,进行校准,根据从过去到现在的多次校准得到的校准数据(603),预测校准数据的未来值,根据预测,指定下次进行校准的时期(605)。通过将由多次校准得到的校准数据与时序模式相对照来进行预测。
搜索关键词: 校准 方法 计算 线体层 照相 装置
【主权项】:
1、一种校准方法,其特征在于:当向校准对象提供预定条件进行校准时,根据从过去到现在的多次校准得到的校准数据,预测校准数据的未来值,根据该预测,指定下次进行校准的时期。
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