[发明专利]单片光电集成电路的调制掺杂闸流管和互补晶体管组合无效

专利信息
申请号: 02809313.5 申请日: 2002-03-04
公开(公告)号: CN1507660A 公开(公告)日: 2004-06-23
发明(设计)人: G·W·泰勒 申请(专利权)人: 康涅狄格州大学
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L31/0328;H01L31/0336;H01L31/072;H01L21/338;H01L21/331
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 吴立明;梁永
地址: 美国康*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 用彼此反转的二个调制掺杂的晶体管结构组成的外延层结构,在单片衬底(149)上得到了闸流管以及高速晶体管和光电子器件族。借助于对赝高电子迁移率晶体管(PHEMT)结构进行平面掺杂而得到这种晶体管结构。对于一种晶体管,加入了与PHEMT的调制掺杂相反的被轻掺杂层分隔开的二个相同极性的平面掺杂层。此组合被不掺杂的材料分隔于PHEMT调制掺杂。电荷层薄而重掺杂。顶部电荷层(168)得到了低的栅接触电阻,且底部电荷层(153)确定了相对于PHEMT调制掺杂层的场效应晶体管(FET)电容。对于其它的晶体管,仅仅加入了一个额外的层。
搜索关键词: 单片 光电 集成电路 调制 掺杂 流管 互补 晶体管 组合
【主权项】:
1.一种半导体器件,它包含:生长在衬底上的一系列外延层,所述外延层包括N+掺杂层、被至少第一外延层分隔于所述N+掺杂层的形成p调制掺杂量子阱的第一多个层,形成n调制掺杂量子阱的第二多个层,所述第一多个层被至少第二外延层分隔于所述第二多个层,以及被至少第三外延层分隔于所述第二多个层的P+掺杂层。
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