[发明专利]制造具有超薄顶层的层状超点阵材料的方法无效

专利信息
申请号: 02806150.0 申请日: 2002-03-07
公开(公告)号: CN1620719A 公开(公告)日: 2005-05-25
发明(设计)人: 柄泽润一;维克伦·荷西 申请(专利权)人: 塞姆特里克斯公司;精工爱普生株式会社
主分类号: H01L21/316 分类号: H01L21/316;H01L21/02;H01L27/115
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 张浩
地址: 美国科*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 在集成电路存储元件的制造中,锶铋钽酸盐或锶铋钽铌酸盐薄膜层(50)沉积在衬底(28、49)上面,并在沉积超薄铋钽酸盐层(51)之前对锶铋钽酸盐层(50)进行仔细控制的UV烘烤处理。第二电极(52)形成于超薄铋钽酸盐层(51)的顶部。
搜索关键词: 制造 具有 超薄 顶层 层状 点阵 材料 方法
【主权项】:
1.一种制造集成电路(40)的方法,所述方法包括:提供衬底(28、49)和第一前体,该第一前体包含有效量的金属部分,用于通过加热所述前体而形成层状超点阵材料薄膜(50);将所述第一前体涂覆在所述衬底上,以便形成第一涂层;处理所述第一涂层,以便形成所述层状超点阵材料的所述薄膜;以及完成所述集成电路的制造,以便在所述集成电路中包括至少一部分所述层状超点阵材料薄膜:所述方法的特征在于:提供第二前体,该第二前体包含有效量的金属部分,用于通过加热所述第二前体而形成非铁电材料(51);将所述第二前体涂覆在所述衬底上,以便形成第二涂层;以及所述处理所述第一涂层包括向所述第一涂层施加紫外线辐射;以及处理所述第二涂层;从而在所述衬底上形成所述层状超点阵材料的所述薄膜和在所述层状超点阵材料上形成所述非铁电材料超薄膜;所述完成处理包括完成所述集成电路的制造,以便在所述集成电路的所述层状超点阵材料上包括至少一部分所述非铁电材料超薄膜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于塞姆特里克斯公司;精工爱普生株式会社,未经塞姆特里克斯公司;精工爱普生株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/02806150.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top