[发明专利]金属电阻器装置及其制造方法无效

专利信息
申请号: 02805449.0 申请日: 2002-02-22
公开(公告)号: CN1493080A 公开(公告)日: 2004-04-28
发明(设计)人: 河朝雄;金承贤;李东洙;禹贤廷;朴东衍 申请(专利权)人: 伊诺斯泰克有限公司
主分类号: H01C7/00 分类号: H01C7/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 张天舒;顾红霞
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明提供一种金属电阻器及其制造方法。第一绝缘薄膜形成在基体上,光敏薄膜作用在绝缘薄膜上,通过使绝缘薄膜形成图案而形成绝缘薄膜图案。金属薄膜在绝缘薄膜图案内和光敏薄膜内形成后,除去光敏薄膜,在绝缘薄膜图案内形成金属薄膜图案。在金属薄膜图案和绝缘薄膜图案上,形成第二绝缘薄膜,在金属薄膜图案的衬垫区连接有导线,然后制成金属薄膜电阻器,其上具有在导线上和导线周围的保留薄膜。通过蚀刻绝缘薄膜,利用图案形成工艺,以形成金属薄膜图案,可以克服装置的磨损或者寿命降低的问题,易于控制金属薄膜电阻器的电阻,通过制造高电阻的金属薄膜电阻器温度,可以提高灵敏度,所述电阻器具有减小线宽的金属薄膜图案。
搜索关键词: 金属 电阻器 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种金属薄膜电阻器装置,包括:形成在基体上的绝缘薄膜图案;形成在所述绝缘薄膜图案内的金属薄膜图案;形成在所述绝缘薄膜图案和金属薄膜图案上的绝缘薄膜;与所述金属薄膜图案的衬垫区连接的导线;和形成在所述导线上和导线周边部分上的钝化层。
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