[实用新型]一种多通道芯片安培检测仪及检测系统无效

专利信息
申请号: 02256483.7 申请日: 2002-10-08
公开(公告)号: CN2572407Y 公开(公告)日: 2003-09-10
发明(设计)人: 申请(专利权)人:
主分类号: G01N27/447 分类号: G01N27/447
代理公司: 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 代理人: 张晨
地址: 116023 *** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 一种多通道芯片安培检测仪,其特征在于:该检测仪由系统控制数据采集部分,高压部分,多通道安培检测部分构成;其中系统控制数据采集部分的核心为一单片机CPU;高压部分由多个并列的高压模块EMCO及与高压模块EMCO相连的高压继电器组成;多通道安培检测部分为多个并列的恒电位电流—电压变换器;所述单片机CPU通过并行的多路D/A输出分别接高压部分的高压模块EMCO,通过另外多路D/A输出作为多通道安培检测部分的恒电位,通过多路A/D接电流—电压变换器的输出;所述高压继电器控制多通道检测芯片上检测通道两端的电极,恒电位施加于检测池内工作电极和参比电极上,工作电极接电流—电压变换器的输入。本实用新型可以与芯片实验室更好地相匹配。
搜索关键词: 一种 通道 芯片 安培 检测 系统
【主权项】:
1、一种多通道芯片安培检测仪,其特征在于:该检测仪由系统控制数据采集部分,高压部分,多通道安培检测部分构成;其中系统控制数据采集部分的核心为一单片机CPU;高压部分由多个并列的高压模块EMCO及与高压模块EMCO相连的高压继电器组成;多通道安培检测部分为多个并列的恒电位电流—电压变换器;所述单片机CPU通过并行的多路D/A输出分别接高压部分的高压模块EMCO,通过另外多路D/A输出作为多通道安培检测部分的恒电位,通过多路A/D接电流—电压变换器的输出;所述高压继电器控制多通道检测芯片上检测通道两端的电极,恒电位施加于检测池内工作电极和参比电极上,工作电极接电流—电压变换器的输入。
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