[发明专利]测定同位素气体的光谱学方法及其仪器无效
| 申请号： | 02155714.4 | 申请日： | 1996-10-02 |
| 公开（公告）号： | CN1495423A | 公开（公告）日： | 2004-05-12 |
| 发明（设计）人： | 久保康弘;森泽且广;座主靖;池上英司;筒井和典;浜尾保;森正昭;丸山孝 | 申请（专利权）人： | 大塚制药株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/35 | 分类号： | G01N21/35;A61B5/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 唐晓峰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种光谱学测定同位素气体的方法，包括以下步骤：将含12CO2和13CO2作为气体成分的气体试样导入样品池，于对每种气体成分合适的波长下测定通过气体试样的透射光的吸收，根据矫准曲线测定各气体成分的浓度，上述矫准曲线是通过分别测定含已知浓度的各气体成分的气体样品制备的，该方法的特征是：测定从一个人体得到的两个气体试样，假如两个气体试样中有一个其中的12CO2的浓度高于另一气体试样中12CO2的浓度，则将上述一个气体试样的12CO2浓度稀释到等于另一气体试样的12CO2浓度，再测定每个气体试样中13CO2/12CO2的浓度比。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 同位素 气体 光谱 方法 及其 仪器 | ||
【主权项】：
1.一种光谱学测定同位素气体的方法，包括以下步骤：将含12CO2和13CO2作为气体成分的气体试样导入样品池，于对每种气体成分合适的波长下测定通过气体试样的透射光的吸收，根据矫准曲线测定各气体成分的浓度，上述矫准曲线是通过分别测定含已知浓度的各气体成分的气体样品制备的，该方法的特征是：测定从一个人体得到的两个气体试样，假如两个气体试样中有一个其中的12CO2的浓度高于另一气体试样中12CO2的浓度，则将上述一个气体试样的12CO2浓度稀释到等于另一气体试样的12CO2浓度，再测定每个气体试样中13CO2/12CO2的浓度比。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于大塚制药株式会社，未经大塚制药株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/02155714.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：测定同位素气体的光谱学方法及其仪器
- 下一篇：识别气体类型的方法和系统
