[发明专利]测定同位素气体的光谱学方法及其仪器无效
| 申请号： | 02155713.6 | 申请日： | 1996-10-02 |
| 公开（公告）号： | CN1495422A | 公开（公告）日： | 2004-05-12 |
| 发明（设计）人： | 久保康弘;森泽且广;座主靖;池上英司;筒井和典;浜尾保;森正昭;丸山孝 | 申请（专利权）人： | 大塚制药株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/35 | 分类号： | G01N21/35;A61B5/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 唐晓峰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种光谱学测定同位素气体的方法，包括以下步骤：将含有多种成分，包括12CO2和13CO2，的气体试样导入样品池，于对每种气体成分合适的波长下测定通过气体试样的透射光的强度，并且将光强度数据进行处理，以便确定气体试样中各成分气体的浓度，该方法的特征是：第一步将气体试样导入样品池，并且测定气体试样中各种气体成分的吸收；第二步根据矫准曲线临时性地确定气体试样中各气体成分的浓度，所述矫准曲线是使用通过在预定范围内测定分别含已知浓度的各气体成分的气体样品得到的数据制备的；第三步在气体试样中的各气体成分浓度周围的有限范围内，使用在第二步临时性地测定的某些数据制备新的矫准曲线，通过使用由此得到的矫准曲线确定气体试样中各气体成分的浓度。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 同位素 气体 光谱 方法 及其 仪器 | ||
【主权项】：
1.一种光谱学测定同位素气体的方法，包括以下步骤：将含有多种成分，包括12CO2和13CO2，的气体试样导入样品池，于对每种气体成分合适的波长下测定通过气体试样的透射光的强度，并且将光强度数据进行处理，以便确定气体试样中各成分气体的浓度，该方法的特征是：第一步将气体试样导入样品池，并且测定气体试样中各种气体成分的吸收；第二步根据矫准曲线临时性地确定气体试样中各气体成分的浓度，所述矫准曲线是使用通过在预定范围内测定分别含已知浓度的各气体成分的气体样品得到的数据制备的；第三步在气体试样中的各气体成分浓度周围的有限范围内，使用在第二步临时性地测定的某些数据制备新的矫准曲线，通过使用由此得到的矫准曲线确定气体试样中各气体成分的浓度。
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