[发明专利]光盘的检查装置与程序有效

专利信息
申请号: 02143463.8 申请日: 2002-04-17
公开(公告)号: CN1409303A 公开(公告)日: 2003-04-09
发明(设计)人: 森冈幸一;弓场隆司;川岛启一 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11B7/007 分类号: G11B7/007;G11B7/26;G11B20/10
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 邹光新,叶恺东
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 通过光学方式对光盘上的多个光道进行读取处理,获得包括多个LOW区间的读取信号。这些多个LOW区间与相应的证明凹痕相对应。如果任意的LOW区间Xj,与相对该LOW区间,头n个LOW区间Xj+n之间的间距超过光道一周的长度,则判定可与证明凹痕相混同的缺陷凹痕,混入多个证明凹痕之间。
搜索关键词: 光盘 检查 装置 程序
【主权项】:
1.一种检查装置,该检查装置对下述光盘,进行是否在任意的两个证明凹痕之间,混入有自然缺陷的检测,在该光盘中,证明是正版光盘的n个证明凹痕设置于相互邻接的多个光道的相应光道上(n为1以上的整数);证明凹痕为具有规定以外的连续长度的凹痕,自然缺陷具有与该连续长度相同的连续长度,该检测装置包括:读取机构,该读取机构通过光学方式对上述多个光道进行读取处理,获得与多个光道相对应的1个读取信号;检测机构,该检测机构根据上述读取信号,检测具有相当于证明凹痕和自然缺陷的宽度的信号区间;判断机构,如果在已检测的信号区间中,任意的信号区间,与相对该信号区间,头n个信号区间之间的间距不是基准值,则该判断机构判定在任意的两个证明凹痕之间,混入自然缺陷。
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