[发明专利]叠合标记及其应用方法有效
申请号: | 02140130.6 | 申请日: | 2002-07-02 |
公开(公告)号: | CN1421898A | 公开(公告)日: | 2003-06-04 |
发明(设计)人: | 吴得鸿;谢荣裕;张秀满 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/66;G03F7/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 李晓舒,魏晓刚 |
地址: | 台湾省新竹*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种可同时侦测对准精度、焦距值、水平与像差的叠合标记及其应用方法,在曝光区域的角落形成包括四个内测试条与四个外测试条的叠合标记,其中内测试条还分为锯齿状部位与条状部位;而外测试条则为前层已蚀刻的条状图案。其配置为内测试条与外测试条均围成矩形,每一个测试条为矩形的一边,且两两不相连,其中,每两个对边的内测试条的锯齿状部位具相同的相对位置;外测试条围成的矩形包围内测试条围成的矩形外。进行侦测时,会有测试束扫描过分为两区域的扫描区域,其一包括外测试条与内测试条锯齿状部位;另一包括外测试条与内测试条条状部位。 | ||
搜索关键词: | 叠合 标记 及其 应用 方法 | ||
【主权项】:
1.一种可同时侦测对准精度、焦距值、水平与像差的叠合标记,包括:四个内测试条,其中每一内测试条由一锯齿状部位与一条状部位组成,其中该些内测试条围成一第一矩形,每一内测试条为该第一矩形的一边,且两两不相连;以及四个外测试条,其中每一外测试条均为该些内测试条的前层已蚀刻的条状图案,且该些外测试条围成一第二矩形,每一外测试条为该第二矩形的一边,且两两不相连,其中,该第二矩形包围该第一矩形。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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