[发明专利]用于测量强度调制光信号之间相位差的方法和设备无效

专利信息
申请号: 01809799.5 申请日: 2001-03-30
公开(公告)号: CN1430724A 公开(公告)日: 2003-07-16
发明(设计)人: F·巴宾;N·西尔 申请(专利权)人: 埃科斯弗电光工程公司
主分类号: G01J9/02 分类号: G01J9/02;G01M11/00
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 杨晓光,马江立
地址: 暂无信息 国省代码: 暂无信息
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摘要: 为了避免在相对群延时测量中测量电相位差或脉冲到达时间时固有的误差,不同的光信号具有它们在共同的高频下调制的强度,并选择不同的置换。检测相应电信号的振幅,并根据三角关系计算相位差。由于调制频率已知,所以时间差可以导出。用于测量相位差的设备方便地包括一个开槽轮,该开槽轮通过选定的光信号其中之一或二者。可以将光信号的其中之一分裂,以便产生具有预定相移,比如在调制频率下约90°,的第三信号,并用三个光学信号一些可能置换的振幅来计算相位差。可以用这些测量来计算色度色散、偏振模式色散、伸长,等。
搜索关键词: 用于 测量 强度 调制 信号 之间 相位差 方法 设备
【主权项】:
1.一种测量在相同调制频率下调制的至少第一和第二强度调制光信号(S1、S2)之间相位差的方法,其特征在于以下步骤:(i)单独地和然后组合式按顺序选择两个光信号;(ii)在调制频率下从选定的光信号导出一个相应的电信号,此电信号具有一系列相应于不同的光信号选择的不同的振幅,并测定不同的振幅;和(iii)利用振幅和相位角之间的三角关系,从测得的振幅计算第一和第二调制光信号之间的相位差(φ1-φ2)。
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