[发明专利]半导体陶瓷、用于去磁的正温系统热敏电阻器、去磁电路以及制造半导体陶瓷的方法无效

专利信息
申请号: 01804489.1 申请日: 2001-12-04
公开(公告)号: CN1421041A 公开(公告)日: 2003-05-28
发明(设计)人: 並河康训;高田贡;田中宏树;北村善则 申请(专利权)人: 株式会社村田制作所
主分类号: H01C7/02 分类号: H01C7/02
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 李玲
地址: 日本京都*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在具有正电阻温度特性且用作去磁热敏电阻元件的半导体陶瓷中,通过将电阻温度系数α调节在大约从10到17的范围内,电流特性缓慢变化而不增加元件尺寸。
搜索关键词: 半导体 陶瓷 用于 系统 热敏 电阻器 磁电 以及 制造 方法
【主权项】:
1.一种对去磁热敏电阻有用的半导体陶瓷,其特征在于,包含具有正电阻温度特性和在从大约10到17的范围中的电阻温度系数α的半导体陶瓷,α=[ln(ρ2/ρ1)/(T2-T1)]×100其中,ρ1:电阻率,它是热敏电阻的温度为室温(25℃)时所获得的电阻率ρ25的10倍,ρ2:电阻率,它是电阻率ρ25的100倍,T1:电阻率为ρ1时的温度(℃),T2:电阻率为ρ2时的温度(℃)。
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