[发明专利]具有增大栅耦合电容的集成电路无效
申请号: | 00812201.6 | 申请日: | 2000-07-17 |
公开(公告)号: | CN1371530A | 公开(公告)日: | 2002-09-25 |
发明(设计)人: | 朴基泰;S·C·艾文利诺 | 申请(专利权)人: | 先进微装置公司 |
主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115;H01L21/8247;H01L21/762 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 程伟 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种具有增大的栅耦合电容的集成电路(100)。所述集成电路(100)包括具有表面(110)的基底(102),该基底(102)具有一条在所述表面(110)下延伸的沟道(106)。一种沟道填充材料(108)设置于所述沟道(106)内并且有一部份(109)延伸至所述表面(110)上。第一导电层(116)与沟道填充材料(108)相邻并有一部分(118)延伸至所述沟道填充材料(108)的部分(109)上。一绝缘层沟道填充材料(122)处于所述第一导电层(116)上而且第二导电层(124)与该绝缘层沟道填充材料(122)相邻。 | ||
搜索关键词: | 具有 增大 耦合 电容 集成电路 | ||
【主权项】:
1.一种具有增大栅耦合电容的集成电路(100),包含一个具有表面(110)的基底(102),该基底(102)具有一条延伸在所述表面(110)下方的沟道(106),其特征在于:一种沟道填充材料(108)沉积在所述沟道(106)内,并且有一部份(109)延伸至所述表面(110)的上方;第一导电层(116)位于所述基底(102)上方并与所述沟道填充材料(108)相邻,而且有一部分(109)延伸至所述沟道填充材料(108)的所述部分(109)上;一种绝缘材料(122)位于所述第一导电层(116)上;和第二导电层(124)与所述绝缘材料(122)相邻,因此所述集成电路(100)具有改进的栅耦合比率。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的