[发明专利]电子喷雾质谱分析的方法和装置无效

专利信息
申请号: 00805943.8 申请日: 2000-03-28
公开(公告)号: CN1346508A 公开(公告)日: 2002-04-24
发明(设计)人: 山口健太郎 申请(专利权)人: 科学技术振兴事业团
主分类号: H01J49/10 分类号: H01J49/10;H01J49/06;G01N27/62
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 付建军
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种用于执行电子喷雾电离质谱分析的方法和装置,所述方法能够精确分析不稳定有机金属络合物或聚合有机化合物的大量分子离子或裂片离子。所述方法包括冷却一个待分析的包含一种溶剂的样本,该样本与一种用于低温汽化的惰性气体(A)一起从一个小直径喷管中喷出,以及在用液氮冷却一个用于分离溶剂的腔室(7)或离子源屏蔽板(8)的同时对所述样本进行电离和质谱分析。
搜索关键词: 电子 喷雾 谱分析 方法 装置
【主权项】:
1.一种实现电子喷雾质谱分析的方法,其特征在于包括电离一个待分析的样本溶液,同时冷却用于汽化的气体和用于分离溶剂或离子源的腔室,由此对所述样本溶液进行质谱分析。
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